Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
6

Practical Materials Characterization || X-Ray Diffraction and Reflectivity

Рік:
2014
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.41 MB
english, 2014
9

Electrodeposition of Co–P on Silicon

Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 155 KB
english, 2001
16

Macrotexture and growth chemistry in ultrananocrystalline diamond thin films

Рік:
2005
Мова:
english
Файл:
PDF, 457 KB
english, 2005
17

Micromechanical properties and erosive wear performance of chromium carbide based cermets

Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.42 MB
english, 2009
19

Structural study of Li2MnO3by electron microscopy

Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 798 KB
english, 2009
20

The Cr2+ luminescence in GaAs as a function of hydrostatic pressure

Рік:
1989
Мова:
english
Файл:
PDF, 193 KB
english, 1989
27

Thermal stability of rhenium Schottky contacts on n-type Al[sub x]Ga[sub 1−x]N

Рік:
2002
Мова:
english
Файл:
PDF, 307 KB
english, 2002
29

Practical Materials Characterization ||

Рік:
2014
Мова:
english
Файл:
PDF, 8.31 MB
english, 2014
30

Metal–semiconductor junctions on p-type strained Si1−xGex layers

Рік:
1996
Мова:
english
Файл:
PDF, 328 KB
english, 1996
33

Magnetic and electronic transport properties of Yb[sub x]Ca[sub 1−x]MnO[sub 3] compounds

Рік:
2002
Мова:
english
Файл:
PDF, 277 KB
english, 2002
40

Structure and magnetic properties of RFe[sub 6−x]Ga[sub 6+x] (R=rare earth)

Рік:
2002
Мова:
english
Файл:
PDF, 316 KB
english, 2002
43

Strain characterization of CoSi2/n-Si0.9Ge0.1/p-Si heterostructures

Рік:
1994
Мова:
english
Файл:
PDF, 654 KB
english, 1994
47

Practical Materials Characterization || Transmission Electron Microscopy

Рік:
2014
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.48 MB
english, 2014
49

Practical Materials Characterization || X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Auger Electron Spectroscopy (AES)

Рік:
2014
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.94 MB
english, 2014